X射線熒光光譜儀的主要組件應該怎樣去選擇?
X射線熒光光譜儀是X射線光管發(fā)出的初級X射線照射樣品,樣品中原子的內層電子被激發(fā),當外層電子躍遷時產(chǎn)生特征X射線,通過分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(或能量)和強度,可以獲得樣品中的元素組成與含量信息,達到定性定量分析的目的。
該光譜儀的分析技術目前已在地質、冶金、材料、環(huán)境等無機分析領域得到了廣泛的應用,是各種無機材料中主組分分析重要的技術手段之一,各種與X射線熒光光譜相關的分析技術,如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等,在痕量和超痕量分析中發(fā)揮著重要的作用。
不管選擇X射線熒光光譜儀主要組件的趕緊看這里了!
?。?)氣氛
X射線光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素,具體而言,從鈉元素(原子序數(shù)Z=11)到鈾元素(原子序數(shù)Z=92)都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數(shù)較低的元素(鈦元素Ti,Z=22以下),空氣會對檢測結果產(chǎn)生較大影響;由低原子序數(shù)元素產(chǎn)生的熒光值通常更低,并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數(shù)元素的能量輻射。
通常情況下,用于提高低原子序數(shù)元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環(huán)境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。
?。?)探測器
新型探測器技術——硅漂移探測器(SDDs)能夠提高低能量敏感度,使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數(shù)元素進行檢測分析,甚至是在空氣氣氛中也能進行檢測,例如用于測量化學鍍鎳涂層中磷元素(原子序數(shù)Z=15)的含量。但是,大多數(shù)的低原子序數(shù)元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。
?。?)X射線源(X射線管、供電電源、濾光片、光束尺寸)
這里將一些組件都列到X射線源里面統(tǒng)一討論,包括X射線管、電源供應器、濾光片、光束尺寸。X射線管和供電電源決定了檢測樣品將受到的能量強度和能量分布。商業(yè)化的能量色散X射線熒光光譜儀中用到的大多數(shù)X射線管都是50KV,1mA(50W)規(guī)格的。50KV的高電壓能夠提供更高的激發(fā)效率;X射線管通量可以利用燈絲電流設置進行控制。