X射線熒光光譜儀的測試步驟是什么？
X射線熒光光譜儀是基于X射線的一種分析手段，當一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，形成一個空穴使原子處于激發態，由于激發態不穩定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態，躍遷時釋放出的能量以輻射的形式放出便產生X熒光。
X熒光具有特征的波長，對應的即是特征的能量，通過對光子的特征波長進行辨識，XRF能實現對元素的定性分析，通過探測特征波長的X射線光子的強度，實現元素的定量和半定量分析。
X射線熒光光譜儀的測試步驟如下：
1、選擇分析方法與制樣方法。分析方法一般有基本參數法、半基本參數法、經驗系數法等，制樣方法一般有拋光法、壓片法、濾紙片法和熔片法，本司常用粉末壓片法制樣，采用基本參數法測試。
2、將制備好的樣片裝進樣品杯，放入樣品交換器中，自動進樣至樣品室，X射線管發出原級X射線照射樣品，激發出待測元素的熒光X射線。
3、樣品輻射出的熒光X射線通過分光晶體，將X射線熒光光譜色散成孤立的單色分析線，由探測器測量各譜線的強度，根據選用的分析方法換算成元素濃度，得到樣品中待測元素含量。
X射線熒光光譜儀的工作原理是由X光管發射的原級X射線入射到樣品上 ，樣品元素受激發射出熒光X射線，并與原級X射線的散射線一起，通過準直器(索勒狹縫)，以平行方式投射到晶體表面，按布拉格條件發生衍射，衍射的X射線與晶體散射線一起。
并通過次級準直器（稱探測器準直器）進入探測器，進行光電轉換，把不可直接測量的光子轉變成為可以測量的電信號脈沖。探測器的輸出脈沖經放大器幅度放大和脈沖高度分析器的幅度甄別后，即可通過定標器和進行測量由計算機進行數據處理，輸出結果。
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