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X射線膜厚檢測儀性能

簡要描述:

X射線膜厚檢測儀性能是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,電腦操作,非常簡單,江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業,thick8000是公司款,采用上照方式,移動測試平臺,使整個自動化程度大幅度提高,滿足快速精確的要求。

產品介紹

 

X射線膜厚檢測儀性能是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,電腦操作,非常簡單,江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業X射線膜厚檢測儀性能生產廠家,thick8000是公司款的,采用上照方式,移動測試平臺,使整個自動化程度大幅度提高,滿足快速精確的要求。

 

性能優勢

 

1.精密的三維移動平臺 

2.的樣品觀測系統 

3.良好的圖像識別 

4.輕松實現深槽樣品的檢測 

5.四種微孔聚焦準直器,自動切換 

6.雙重保護措施,實現無縫防撞 

7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度

 

全自動智能控制方式,一鍵式操作!

開機自動自檢、復位; 

開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣; 

關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦; 

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點; 

點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。

 

技術指標

 

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U) 

同時檢測元素:zui多24個元素,多達5層鍍層

分析含量:一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)

SDD探測器:分辨率低至135eV

良好的微孔準直技術:zui小孔徑達0.1mm,zui小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 

準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 

儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度:15℃~30℃

 

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應用領域

 

X射線膜厚檢測儀廣泛應用于小螺絲、螺帽、螺栓、電子連接器、汽車配件、端子、PCB線路板、電子元器件等產品的金屬鍍層快速測量。

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