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天瑞熒光X射線鍍層測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:

天瑞熒光X射線鍍層測(cè)厚儀是一款快速無(wú)損測(cè)厚儀器,主要針對(duì)金屬鍍層(鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍鋅、鍍銅等)厚度檢測(cè),廣泛應(yīng)用于電鍍廠、電子電器企業(yè)、五金工具廠、線路板企業(yè)、電子連接器企業(yè)等。天瑞儀器是國(guó)內(nèi)的熒光X射線鍍層測(cè)厚儀廠家,分析儀器上市公司,產(chǎn)品打破了國(guó)外壟斷局面,在國(guó)內(nèi)占有一定的*,熒光X射線鍍層測(cè)厚儀品牌企業(yè)。

天瑞熒光X射線鍍層測(cè)厚儀售后服務(wù)

 

天瑞儀器作為一個(gè)集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計(jì)、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商,熒光X射線鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè),一直以來(lái)嚴(yán)格遵循“360°優(yōu)質(zhì)服務(wù)的客戶服務(wù)理念,以提高顧客滿意度為根本目標(biāo),從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個(gè)方面為客戶提供*的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

    我公司為客戶提供技術(shù)咨詢、方案設(shè)計(jì)、技術(shù)交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場(chǎng)勘察、工程實(shí)施、技術(shù)培訓(xùn)、故障處理、回訪、巡檢等全過(guò)程、*、全系列的服務(wù)。這些不僅讓客戶體驗(yàn)到天瑞儀器高質(zhì)量的服務(wù),更為客戶創(chuàng)造了更高的價(jià)值。

快速、準(zhǔn)確、到位的服務(wù)

長(zhǎng)保修期

個(gè)性化服務(wù)

維護(hù)費(fèi)用

短交貨時(shí)間

快安裝

短維修周期

 

天瑞熒光X射線鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

 

快速

1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。

方便

熒光x射線測(cè)厚儀部分機(jī)型采用進(jìn)口上良好的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

無(wú)損

測(cè)試前后,樣品無(wú)任何形式的變化。

直觀

實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。

測(cè)試范圍廣

熒光X射線鍍層測(cè)厚儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從NaU

可靠性高

由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測(cè)量的可靠性更高。

滿足不同需求

測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種良好的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,熒光x射線測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

簡(jiǎn)易

對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

 

全自動(dòng)智能控制方式,一鍵式操作!

開機(jī)自動(dòng)自檢、復(fù)位;

開蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái),升起Z軸測(cè)試平臺(tái),方便放樣;

關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái),下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦;

直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn);

點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕,自動(dòng)完成測(cè)試并顯示結(jié)果。

 

熒光X射線鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

 

產(chǎn)品名稱:熒光X射線鍍層測(cè)厚儀

X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:小于0.1um

操作環(huán)境濕度:≤90%

操作環(huán)境溫度:15℃~30

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U

同時(shí)檢測(cè)元素:多24個(gè)元素,多達(dá)5層鍍層

分析含量:一般為2ppm99.9%

鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

SDD探測(cè)器:分辨率低至135eV

良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭

準(zhǔn)直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四種準(zhǔn)直器組合

儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

樣品臺(tái)尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

 

熒光X射線鍍層測(cè)厚儀鍍層部分產(chǎn)品

 

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