X熒光鍍層表面電鍍測厚儀 原理是根據X射線穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的,即測量被測鋼板所吸收的X射線量,根據該X射線的能量值,確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號,經過前置放大器放大,再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。
X射線源輻射強度的大小,與X射線管的發射強度和被測鋼板所吸收的X射線強度相關。一個在系統量程范圍內的給定厚度,為了確定其所需的X射線能量值,可利用M215型X射線檢測儀進行校準。在檢測任一特殊厚度時,系統將設定X射線的能量值,使檢測能夠順利完成。
X熒光鍍層電鍍測厚儀在厚度一定的情況下,X射線的能量值為常量。當安全快門打開,X射線將從X射線源和探頭之間的被測鋼板中通過,被測鋼板將一部分能量吸收,剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收,探頭將所接收的X射線轉換為與之大小相關的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度,則所吸收的X射線量也將改變,這將使探頭所接收的X射線量發生變化,檢測信號也隨之發生相應的變化。
X熒光鍍層電鍍測厚儀按射線源的種類可分為X射線測厚儀與核輻射線測厚儀兩類,而后者又可多r射線測厚儀與 射線測厚儀。按射線與被測板材的作用方式,又可分為穿透式和反射式。
X熒光鍍層電鍍測厚儀是利用射線與物質相互作用時,為物質所吸收或散射的效應來進行測量的一種儀表。其主要特點:
(1)可進行連續和不接觸地測量;
(2)測量精度較高;
(3)反應速度較快;
(4)能夠給出供濕示、記錄與控制的電信號,易于實現生產自動化。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
技術指標
型號:Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
X熒光鍍層電鍍測厚儀多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg