上?;瘜W(xué)鍍金測厚儀生產(chǎn)廠家,化學(xué)鍍金測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器?;瘜W(xué)鍍金測厚儀主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
化學(xué)鍍金測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器?;瘜W(xué)鍍金測厚儀主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
測試實(shí)例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用化學(xué)鍍金測厚儀Thick800A對銅鍍鎳樣品實(shí)際測試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測試
銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖
樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 0.273409 |
相對標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 1.425257 |
銅鍍鎳件測試值
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明,使用XRF鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。
天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的電鍍鍍層測厚儀在電鍍檢測行業(yè)中, 針對上述五項(xiàng)需求的應(yīng)用:
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準(zhǔn)分析;
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測、水質(zhì)在線監(jiān)測可進(jìn)行快速檢測,檢測環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
同時(shí)具有以下特點(diǎn)
快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測量精度要求。
方便:X熒光光譜儀部分機(jī)型采用電制冷半導(dǎo)體探測器,能量分辨率更優(yōu)于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用更加方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高:由于測試過程無人為因素干擾,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,其測量的可靠性更高。
滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作方便、功能強(qiáng)大,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種良好的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價(jià)比高:相比化學(xué)分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易:對人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。