金鎳表面厚測試儀thick8000是一款的X射線原理的無損測試儀器,可以同時測試金層、鎳層的厚度,同時也可以測試鋅層、錫層、銀層的厚度,多一次可以測試5層,thick8000是天瑞儀器目前端的鎳金厚測試儀,基本實現智能化操作,基本培訓即可上崗使用。
產品介紹
金鎳厚測試儀是一款的X射線原理的無損測試儀器,可以同時測試金層、鎳層的厚度,同時也可以測試鋅層、錫層、銀層的厚度,多一次可以測試5層,thick8000是天瑞儀器目前端的鎳金厚測試儀,基本實現智能化操作,基本培訓即可上崗使用。
性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
良好的圖像識別
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動自檢、復位;
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣;
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦;
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點;
點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示結果。
技術指標
分析元素范圍:硫(S)~鈾(U)
同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層
分析含量:一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)
SDD探測器:分辨率低至135eV
良好的微孔準直技術:小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃
應用領域
PCB電路板、端子連接器、LED、半導體、衛浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車配件、檢測機構以及研究所和高等院校等;