天瑞儀器92年就開始做光譜儀，經(jīng)過多年的積累，在鍍層厚度檢測方面，我們一直保持國內(nèi)：主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競爭力，這個(gè)優(yōu)勢不僅僅體現(xiàn)在購買價(jià)格上，也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。

Thick600鍍鎳測厚儀是天瑞儀器價(jià)格優(yōu)的鍍層測厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測，配置的軟件界面簡潔，測試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。

技術(shù)參數(shù) 

1   分析元素范圍：S-U2   可分析多達(dá)3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm4   多次測量重復(fù)性可達(dá)0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測量時(shí)間：30s-300s6   計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

7  儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。

性能優(yōu)勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測試點(diǎn)高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率 

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測；

合金成分分析；

測試步驟

1.每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”：用戶使用“Administrator”，密碼：skyray2.進(jìn)入測試軟件后，選擇“測試條件”點(diǎn)擊“確定”，即測試條件確定（儀器已設(shè)置好）3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推4.放入“Ag片”對儀器進(jìn)行初始化初始化完成后，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù)，如300以上）。5.待測樣品測試放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn)，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。6.測試完成后即可保持報(bào)告，報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。注意：測試鍍層樣品時(shí)，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應(yīng)的工作曲線測試。 

硬件配置 

1. 探測器2. 高、低壓電源3. X光管                              4. MCA多道分析器5. 高精密攝像頭6. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）7. 準(zhǔn)直器8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品 

質(zhì)量保證、技術(shù)服務(wù)

1.儀器進(jìn)行終身維修；2.軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；3.保修條款3.1乙方對本合同銷售儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；3.2保修期結(jié)束后，乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下：交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān)；資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷人員住宿費(fèi)用——￥300元/天4.技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有

必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1 光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052 X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053 庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測量標(biāo)準(zhǔn)

1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence